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Jlink-AXD仿真调试指南:TQ2440开发板

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下载需积分: 16 | 1019KB | 更新于2024-09-13 | 124 浏览量 | 0 下载量 举报 收藏
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"jlink-AXD仿真调试.pdf" 本文档主要介绍了如何使用Jlink与AXD进行嵌入式系统的仿真调试,重点在于Jlink设备与TQ2440开发板的配合使用以及AXD调试器的配置。首先,实验设备主要包括TQ2440开发板、Jlink-V6、Jtag接口板以及ADS编译器和AXD调试器。TQ2440是一款基于Samsung的S3C2440处理器的开发平台,常用于嵌入式系统的学习和开发。 在开始实验前,确保已正确安装了所有必要的软件和驱动。这包括TQ2440开发板的驱动以及Jlink的驱动程序,这里推荐使用版本为4.02c的驱动。如果Jlink的接口为2.54mm间距,可能需要使用Jtag板来适配开发板。此外,硬件连接的检查至关重要,确保Jlink与开发板的连接无误,并打开开发板的电源,以准备进行调试工作。 接下来,安装并配置ADS编译器,它是ARM架构下常用的集成开发环境,集成了编译、链接和调试等功能。用户需要对ADS进行适当的设置,以适应TQ2440开发板的硬件配置和目标程序的要求。这部分通常涉及到目标系统的内存映射、调试器设置以及编译选项等。 AXD调试器是ADS的一部分,用于对ARM处理器的程序进行调试。在设置AXD时,用户需要指定目标板的类型、连接方式(通过Jlink)以及调试端口等相关参数。一旦设置完成,用户可以通过AXD进行断点设置、单步执行、查看寄存器状态、内存查看及修改等一系列调试操作。 在实际操作中,用户可能需要根据AXD提供的图形化界面进行各种调试任务,如查看程序执行流程、分析变量值的变化以及检测异常处理等。通过这些功能,开发者能够深入理解程序的运行情况,定位并解决代码中的问题。 "jlink-AXD仿真调试.pdf"这份文档详细阐述了如何利用Jlink和AXD工具进行嵌入式系统的调试工作,涵盖了从硬件连接、软件安装到实际调试操作的全过程,对于学习和开发基于ARM架构的嵌入式系统具有很高的参考价值。读者通过学习这份资料,可以掌握高效的调试技巧,提升开发效率。

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资源下载链接为: https://pan.quark.cn/s/abbae039bf2a 无锡平芯微半导体科技有限公司生产的A1SHB三极管(全称PW2301A)是一款P沟道增强型MOSFET,具备低内阻、高重复雪崩耐受能力以及高效电源切换设计等优势。其技术规格如下:最大漏源电压(VDS)为-20V,最大连续漏极电流(ID)为-3A,可在此条件下稳定工作;栅源电压(VGS)最大值为±12V,能承受正反向电压;脉冲漏极电流(IDM)可达-10A,适合处理短暂高电流脉冲;最大功率耗散(PD)为1W,可防止器件过热。A1SHB采用3引脚SOT23-3封装,小型化设计利于空间受限的应用场景。热特性方面,结到环境的热阻(RθJA)为125℃/W,即每增加1W功率损耗,结温上升125℃,提示设计电路时需考虑散热。 A1SHB的电气性能出色,开关特性优异。开关测试电路及波形图(图1、图2)展示了不同条件下的开关性能,包括开关上升时间(tr)、下降时间(tf)、开启时间(ton)和关闭时间(toff),这些参数对评估MOSFET在高频开关应用中的效率至关重要。图4呈现了漏极电流(ID)与漏源电压(VDS)的关系,图5描绘了输出特性曲线,反映不同栅源电压下漏极电流的变化。图6至图10进一步揭示性能特征:转移特性(图7)显示栅极电压(Vgs)对漏极电流的影响;漏源开态电阻(RDS(ON))随Vgs变化的曲线(图8、图9)展现不同控制电压下的阻抗;图10可能涉及电容特性,对开关操作的响应速度和稳定性有重要影响。 A1SHB三极管(PW2301A)是高性能P沟道MOSFET,适用于低内阻、高效率电源切换及其他多种应用。用户在设计电路时,需充分考虑其电气参数、封装尺寸及热管理,以确保器件的可靠性和长期稳定性。无锡平芯微半导体科技有限公司提供的技术支持和代理商服务,可为用户在产品选型和应用过程中提供有
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