| dbo:abstract
|
- Magnetic force microscopy (MFM) is a variety of atomic force microscopy, in which a sharp magnetized tip scans a magnetic sample; the tip-sample magnetic interactions are detected and used to reconstruct the magnetic structure of the sample surface. Many kinds of magnetic interactions are measured by MFM, including magnetic dipole–dipole interaction. MFM scanning often uses non-contact AFM (NC-AFM) mode. (en)
- 磁気力顕微鏡（じきりょくけんびきょう、Magnetic Force Microscopy;MFM）とは、磁気双極子相互作用を利用する走査型プローブ顕微鏡の一種であり、表面の微小磁区を測定する事ができる顕微鏡である。 (ja)
- Magnetic force microscopy (MFM) is een techniek om magneetvelden op submicron-schaal zichtbaar te maken. Deze techniek wordt toegepast bij onder andere het onderzoek aan harde schijven en magneetbanden. Een zeer kleine sensor die gevoelig is voor magneetvelden beweegt op zeer geringe hoogte boven het te meten object en registreert de sterkte van het veld als functie van de positie. Het probleem hierbij is dat de naald gelijktijdig oneffenheden in het oppervlak en magnetische veldsterkte aan het oppervlak registreert. Om deze van elkaar te scheiden worden verschillende technieken gebruikt. Alle technieken hebben met elkaar gemeen dat het hoogteprofiel en het magnetisch profiel afzonderlijk na elkaar worden gemeten. MFM wordt sinds 1987 toegepast; het is een vorm van scanning probe microscopy. (nl)
- Mikroskop sił magnetycznych (ang. MFM – Magnetic Force Microscope) – mikroskop, w którym ostrze pokryte cienką warstwą ferromagnetyka wibruje z częstotliwością bliską rezonansowej, poruszając się blisko badanej powierzchni. Poprzez modulację częstości z jaką wibruje dźwignia, mikroskop rejestruje namagnesowanie badanej powierzchni. Zmiany te są indukowane przez zależność pola magnetycznego od odległości ostrze – próbka. Jest on używany do badania struktur domen magnetycznych powierzchni głowic i nośników magnetycznych, np. dysków twardych. (pl)
- 磁力显微镜（英文：[[Magnetic force microscope]].MFM）是一种原子力显微镜，通过磁性探针扫描磁性样品，检测探针和磁性样品表面的相互作用以重构样品表面的磁性结构。很多种类的磁性相互作用可以通过磁力显微镜测量，包括。磁力显微镜扫描经常使用非接触式的模式。 (zh)
|
| dbo:thumbnail
| |
| dbo:wikiPageExternalLink
| |
| dbo:wikiPageID
| |
| dbo:wikiPageLength
|
- 17352 (xsd:nonNegativeInteger)
|
| dbo:wikiPageRevisionID
| |
| dbo:wikiPageWikiLink
| |
| dbp:wikiPageUsesTemplate
| |
| dcterms:subject
| |
| gold:hypernym
| |
| rdf:type
| |
| rdfs:comment
|
- Magnetic force microscopy (MFM) is a variety of atomic force microscopy, in which a sharp magnetized tip scans a magnetic sample; the tip-sample magnetic interactions are detected and used to reconstruct the magnetic structure of the sample surface. Many kinds of magnetic interactions are measured by MFM, including magnetic dipole–dipole interaction. MFM scanning often uses non-contact AFM (NC-AFM) mode. (en)
- 磁気力顕微鏡（じきりょくけんびきょう、Magnetic Force Microscopy;MFM）とは、磁気双極子相互作用を利用する走査型プローブ顕微鏡の一種であり、表面の微小磁区を測定する事ができる顕微鏡である。 (ja)
- Mikroskop sił magnetycznych (ang. MFM – Magnetic Force Microscope) – mikroskop, w którym ostrze pokryte cienką warstwą ferromagnetyka wibruje z częstotliwością bliską rezonansowej, poruszając się blisko badanej powierzchni. Poprzez modulację częstości z jaką wibruje dźwignia, mikroskop rejestruje namagnesowanie badanej powierzchni. Zmiany te są indukowane przez zależność pola magnetycznego od odległości ostrze – próbka. Jest on używany do badania struktur domen magnetycznych powierzchni głowic i nośników magnetycznych, np. dysków twardych. (pl)
- 磁力显微镜（英文：[[Magnetic force microscope]].MFM）是一种原子力显微镜，通过磁性探针扫描磁性样品，检测探针和磁性样品表面的相互作用以重构样品表面的磁性结构。很多种类的磁性相互作用可以通过磁力显微镜测量，包括。磁力显微镜扫描经常使用非接触式的模式。 (zh)
- Magnetic force microscopy (MFM) is een techniek om magneetvelden op submicron-schaal zichtbaar te maken. Deze techniek wordt toegepast bij onder andere het onderzoek aan harde schijven en magneetbanden. Een zeer kleine sensor die gevoelig is voor magneetvelden beweegt op zeer geringe hoogte boven het te meten object en registreert de sterkte van het veld als functie van de positie. Het probleem hierbij is dat de naald gelijktijdig oneffenheden in het oppervlak en magnetische veldsterkte aan het oppervlak registreert. Om deze van elkaar te scheiden worden verschillende technieken gebruikt. Alle technieken hebben met elkaar gemeen dat het hoogteprofiel en het magnetisch profiel afzonderlijk na elkaar worden gemeten. (nl)
|
| rdfs:label
|
- 磁気力顕微鏡 (ja)
- Magnetic force microscope (en)
- Mikroskop sił magnetycznych (pl)
- Magnetic force microscopy (nl)
- 磁力顯微鏡 (zh)
|
| rdfs:seeAlso
| |
| owl:sameAs
| |
| prov:wasDerivedFrom
| |
| foaf:depiction
| |
| foaf:isPrimaryTopicOf
| |
| is dbo:wikiPageDisambiguates
of | |
| is dbo:wikiPageRedirects
of | |
| is dbo:wikiPageWikiLink
of | |
| is foaf:primaryTopic
of | |
